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ニッケルめっき膜厚計
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ニッケルめっき膜厚計 SN-2000N
  これまでできなかったニッケルめっきを非破壊測定
現在の電磁誘導方式や渦電流方式を利用してめっきを測定する装置では、すべて鉄および非鉄の素地上の絶縁性めっきまたは非磁性金属めっきを測定するものであり、強磁性体であるニッケルめっきを測定することはできませんでした。
弊社は、従来の方法とはまったく異なる電磁気センサーを開発。鉄および非鉄の両素地上のニッケルめっき測定を可能にしました。


詳しい内容は資料請求ページより
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■特徴
・従来の膜厚計では測定できない強磁性体ニッケルめっきを測定
・鉄および非鉄の両素地上のニッケルめっきを測定
・測定範囲は10〜100μm
・簡単操作
・短時間測定
■仕様
方式 電磁渦電流方式
測定対象 鉄素地上のニッケルめっき、非鉄素地上のニッケルめっき
測定範囲 10〜100μm(母材により異なります)
表示機能 膜厚、OK/NG判定
測定データ 2500件保存、RS232C転送機能、パソコン接続
センサープローブ 2点定圧接触式、貫通式(形状は相談に応じます)
電源 AC100V(バッテリータイプも相談に応じます)
寸法 W210×H149×D280mm(突起物含まず)
重量 3.5Kg
 
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