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| ニッケルめっき膜厚計
SN-2000N |
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無電解ニッケルめっきのメッキ厚み測定が出来ます。
現在、ニッケルめっきの膜厚を測定する方法として、電解式膜厚計による破壊検査や蛍光Ｘ線装置、ベータ線膜厚計等による非破壊検査がありますが、非常に手間とコストがかかります。
現場で簡単にニッケルめっきの膜厚を測定し、品質を高めたいとの要求に応え、弊社はこの度、新しく電磁気を測定原理としたニッケルめっき専用の磁気センサを開発致しました。
従来難しいとされていた磁性体（鉄、鋼など）、非磁性体（銅、アルミ、ＳＵＳ、樹脂など）上のニッケルめっき膜厚をセンサを接触させるのみで簡単に測定が可能になりました。
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| ■仕様 |
| 方式 |
電磁気方式 |
| 計測対象 |
表面ニッケルメッキ層（下地母材、金属、アルミ、樹脂、セラミック可） |
| 測定範囲 |
3〜300μm（その他の厚みも対応いたします。お問い合わせください。） |
| 表示機能 |
膜厚表示 μm、mm OK/NG判定 |
| 測定データー |
USBメモリー（1000件以上、保存可） |
| センサプローブ |
2点接触式 |
| 電源 |
AC100V（バッテリータイプも相談に応じます） |
| 本体寸法・重量 |
W210×H140×D280（突起物含まず） 3.5kg |
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| ■センサプローブ一覧 |
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